China FCM2000W Rekenaartipe Metallografiese Mikroskoop fabriek en vervaardigers |Chengyu

FCM2000W Rekenaartipe Metallografiese Mikroskoop

Spesifikasie

FCM2000W Inleiding

FCM2000W rekenaartipe metallografiese mikroskoop is 'n driehoekige omgekeerde metallografiese mikroskoop, wat gebruik word om die gekombineerde struktuur van verskeie metale en legeringsmateriale te identifiseer en te ontleed.Dit word wyd gebruik in fabrieke of laboratoriums vir gietkwaliteit-identifikasie, grondstofinspeksie of na materiaalverwerking.Metallografiese struktuuranalise, en navorsingswerk oor sommige oppervlakverskynsels soos oppervlakbespuiting;metallografiese analise van staal, nie-ysterhoudende metaal materiale, gietstukke, coatings, petrografiese analise van geologie, en mikroskopiese ontleding van verbindings, keramiek, ens in die industriële veld effektiewe middele van navorsing.

Fokusmeganisme

Die onderste handposisie se growwe en fyninstelende koaksiale fokusmeganisme word aangeneem, wat aan die linker- en regterkant verstel kan word, die fyninstelling akkuraatheid is hoog, die handverstelling is eenvoudig en gerieflik, en die gebruiker kan maklik 'n duidelike en gemaklike beeld.Die growwe verstellingslag is 38 mm, en die fynverstelling akkuraatheid is 0,002.

Meganiese mobiele platform

Dit neem 'n grootskaalse platform van 180 × 155 mm aan en is in die regterkantste posisie gestel, wat in lyn is met die gebruiksgewoontes van gewone mense.Tydens die gebruiker se operasie is dit gerieflik om tussen die fokusmeganisme en die platformbeweging te wissel, wat gebruikers 'n meer doeltreffende werksomgewing bied.

Beligtingstelsel

Epi-tipe Kola beligtingstelsel met veranderlike diafragma diafragma en middel verstelbare veld diafragma, neem aanpasbare wye spanning 100V-240V, 5W hoë helderheid, langlewe LED-beligting aan.

FCM2000W Konfigurasie tabel

Konfigurasie		Model
Item	Spesifikasie	FCM2000W
Optiese stelsel	Eindige aberrasie optiese stelsel	·
waarnemingsbuis	45° kantel, driehoekige waarnemingsbuis, interpupillêre afstand aanpassingsreeks: 54-75 mm, straalverdelingsverhouding: 80:20	·
oogstuk	Hoë oogpunt groot veldplan oogstuk PL10X/18mm	·
	Hoë oogpunt groot veldplan oculair PL10X/18mm, met mikrometer	O
	Hoë oogpunt grootveld oculair WF15X/13mm, met mikrometer	O
	Hoë oogpunt grootveld oculair WF20X/10mm, met mikrometer	O
Doelwitte (Langgooiplan Achromatiese doelwitte)	LMPL5X /0.125 WD15.5mm	·
	LMPL10X/0.25 WD8.7mm	·
	LMPL20X/0.40 WD8.8mm	·
	LMPL50X/0.60 WD5.1mm	·
	LMPL100X/0.80 WD2.00mm	O
omskakelaar	Interne posisionering vier-gat omskakelaar	·
omskakelaar	Interne posisionering van vyf gaatjies	O
Fokusmeganisme	Koaksiale fokusmeganisme vir growwe en fyn verstelling in lae handposisie, die slag per omwenteling van growwe beweging is 38 mm;die fynverstelling akkuraatheid is 0,02 mm	·
Verhoog	Drie-laag meganiese mobiele platform, oppervlakte 180mmX155mm, regterhandse laehandbeheer, slag: 75mm×40mm	·
werkstafel	Metaal verhoogplaat (middelgat Φ12mm)	·
Epi-beligtingstelsel	Epi-tipe Kola beligtingstelsel, met veranderlike diafragma diafragma en middel verstelbare veld diafragma, aanpasbare wye spanning 100V-240V, enkel 5W warm kleur LED lig, lig intensiteit deurlopend verstelbaar	·
Epi-beligtingstelsel	Epi-tipe Kola beligtingstelsel, met veranderlike diafragma diafragma en middel verstelbare veld diafragma, aanpasbare wye spanning 100V-240V, 6V30W halogeenlamp, ligintensiteit deurlopend verstelbaar	O
Polariserende bykomstighede	Polarisatorbord, vaste ontlederbord, 360° roterende ontlederbord	O
kleur filter	Geel, groen, blou, ryp filters	·
Metallografiese Analise Stelsel	JX2016 metallografiese analise sagteware, 3 miljoen kamera toestel, 0.5X adapter lens koppelvlak, mikrometer	·
rekenaar	HP sakestraler	O

Let wel:“· "standaard"O"opsioneel

JX2016 sagteware

Die "professionele kwantitatiewe metallografiese beeld analise rekenaar bedryfstelsel" gekonfigureer deur die metallografiese beeld analise stelsel prosesse en real-time vergelyking, opsporing, gradering, analise, statistieke en uitvoer grafiese verslae van die versamelde voorbeeld kaarte.Die sagteware integreer vandag se gevorderde beeldanalise-tegnologie, wat die perfekte kombinasie van metallografiese mikroskoop en intelligente analise-tegnologie is.DL/DJ/ASTM, ens.).Die stelsel het alle Chinese koppelvlakke, wat bondig, duidelik en maklik is om te bedryf.Na eenvoudige opleiding of verwysing na die gebruikshandleiding, kan jy dit vrylik gebruik.En dit bied 'n vinnige metode om metallografiese gesonde verstand te leer en bedrywighede te populariseer.

JX2016 sagteware funksies

Beeldbewerkingsagteware: meer as tien funksies soos beeldverkryging en beeldberging;

Beeldsagteware: meer as tien funksies soos beeldverbetering, beeldoorleg, ens.;

Beeldmetingsagteware: dosyne meetfunksies soos omtrek, oppervlakte en persentasie inhoud;

Uitsetmodus: datatabeluitset, histogramuitset, beelddrukuitset.

Toegewyde metallografiese sagtewarepakkette:

Korrelgroottemeting en -gradering (korrelgrensonttrekking, korrelgrensrekonstruksie, enkelfase, dubbelfase, korrelgroottemeting, gradering);

Meting en gradering van nie-metaal insluitings (insluitend sulfiede, oksiede, silikate, ens.);

Pearliet en ferriet inhoud meting en gradering;nodulariteitsmeting en gradering van rekbare ystergrafiet;

Ontkolingslaag, meting van gekarbureerde laag, meting van die dikte van die oppervlakbedekking;

Sweis diepte meting;

Fase-area meting van ferritiese en austenitiese vlekvrye staal;

Analise van primêre silikon en eutektiese silikon van hoë silikon aluminiumlegering;

Titaanlegering materiaal analise ... ens;

Bevat metallografiese atlasse van byna 600 algemeen gebruikte metaalmateriale vir vergelyking, wat voldoen aan die vereistes van die meeste eenhede vir metallografiese analise en inspeksie;

Met die oog op die voortdurende toename van nuwe materiale en ingevoerde graadmateriaal, kan materiaal en evalueringstandaarde wat nie in die sagteware ingevoer is nie, aangepas en ingevoer word.